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渦流涂鍍層測厚儀工作原理
日期：2025-08-12 16:53
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摘要：
1. 基本原理
渦流涂鍍層測厚儀的基本工作原理是,當測頭與被測式樣接觸時,測頭裝置所產生的高頻電磁場, 使置于測頭下的金屬導體產生渦流,其振幅和相位是導體與測頭之間非導電覆蓋層厚度的函數. 即該渦流產生的交變電磁場會改變測頭參數,而測頭參數變量的大小,并將這一電信號轉換處理,即可得到被測涂鍍層的厚度.
(1) 覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2) 基體金屬的電導率對量測有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;
(3) 任何一種測厚都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,量測才不會受基體金屬厚度的影響;
(4) 渦流涂鍍層測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的量測是不可靠的.
(5) 試樣的曲率對量測有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響量測的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7) 渦流涂鍍層測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感.因此量測前應**測頭和覆蓋層表面的污物;量測時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.
渦流涂鍍層測厚儀的基本工作原理是,當測頭與被測式樣接觸時,測頭裝置所產生的高頻電磁場, 使置于測頭下的金屬導體產生渦流,其振幅和相位是導體與測頭之間非導電覆蓋層厚度的函數. 即該渦流產生的交變電磁場會改變測頭參數,而測頭參數變量的大小,并將這一電信號轉換處理,即可得到被測涂鍍層的厚度.
(1) 覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2) 基體金屬的電導率對量測有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;
(3) 任何一種測厚都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,量測才不會受基體金屬厚度的影響;
(4) 渦流涂鍍層測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的量測是不可靠的.
(5) 試樣的曲率對量測有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響量測的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7) 渦流涂鍍層測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感.因此量測前應**測頭和覆蓋層表面的污物;量測時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.
